ANSI/IEEE 1149.7-2009 缩小型插脚和增强功能型测试接入端口和边界扫描架构标准

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 22:44:57  浏览:8938   来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardforReduced-pinandEnhanced-functionalityTestAccessPortandBoundaryScanArchitecture
【原文标准名称】:缩小型插脚和增强功能型测试接入端口和边界扫描架构标准
【标准号】:ANSI/IEEE1149.7-2009
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2009
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Backwardcompatibility;Dataprocessing;Definitions;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Hardware;Integratedcircuits;Pins;Pins(nails);Printedcircuits;Switchingcircuits;Testing
【摘要】:Thisstandarddescribescircuitrythatmaybeaddedtoanintegratedcircuittoprovideaccesstoon-chiptestaccessports(TAPs)specifiedbyANSI/IEEEStd1149.1TM-2001.ThecircuitryusesANSI/IEEE1149.1-2001asitsfoundation,providingcompletebackwardcompatibility,whileaddingfeaturestosupporttestandapplicationsdebug.
【中国标准分类号】:L65
【国际标准分类号】:35_200
【页数】:
【正文语种】:英语