热门站点| 世界资料网 | 专利资料网 | 世界资料网论坛
收藏本站| 设为首页| 首页

SJ/T 11347-2006 数字电视阴极射线管背投影显示器测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-05 05:29:49  浏览:9428   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
基本信息
标准名称:数字电视阴极射线管背投影显示器测量方法
英文名称:Methods of measurement for digital television cathode ray tube rear projection displays
中标分类: 通信、广播 >> 广播、电视设备 >> 广播、电视发送与接收设备
ICS分类: 电信、音频和视频技术 >> 音频、视频和视听工程 >> 电视接收机
发布部门:中华人民共和国信息产业部
发布日期:2006-03-29
实施日期:2006-03-29
首发日期:
作废日期:
出版社:工业电子出版社
出版日期:2006-03-23
页数:36页
适用范围

本标准规定了标准清晰度电视(SDTV)、高清晰度电视(HDTV)阴极射线管(CRT)背投影显示器(以下简称显示器)的测量条件和测量方法,适用于标准清晰度、高清晰度数字电视阴极射线管背投影显示器。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 通信 广播 广播 电视设备 广播 电视发送与接收设备 电信 音频和视频技术 音频 视频和视听工程 电视接收机
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Electricandopticalfibrecables-Testmethodsfornon-metallicmaterials-Part607:Physicaltests-Testfortheassessmentofcarbonblackdispersioninpolyethyleneandpolypropylene
【原文标准名称】:电气光纤电缆.非金属材料试验方法.第607部分:物理试验.聚乙烯和聚丙烯内炭黑分散体的评定试验
【标准号】:IEC60811-607-2012
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2012-03-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC20
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电缆;炭黑;软索;电缆线;电线;电气工程;电绝缘材料;泡沫材料;玻璃纤维电缆;绝缘电缆;绝缘线;绝缘材料;绝缘件;材料试验;材料测试;非金属;光波导;物理试验;聚乙烯;聚丙烯;合格试验;烟灰;试验
【英文主题词】:Cables;Carbonblack;Cords;Electriccables;Electricalcords;Electricalengineering;Electricalinsulatingmaterials;Foams;Glassfibrecables;Insulatedcables;Insulatedcords;Insulatingmaterials;Insulations;Materialtests;Materialstesting;Non-metals;Opticalwaveguides;Physicaltesting;Polyethylene;Polypropylene;Qualificationtests;Soot;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:K15;K13
【国际标准分类号】:29_035_01;29_035_20;29_060_20
【页数】:20P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part12:BendingfatiguetestingmethodofthinfilmmaterialsusingresonantvibrationofMEMSstructures(IEC62047-12:2011);GermanversionEN62047-12:2011
【原文标准名称】:半导体器件.微电机器件.第12部分:使用MEMS结构共振的薄膜材料的弯曲疲劳测试方法(IEC62047-12-2011).德文版本EN62047-12-2011
【标准号】:DINEN62047-12-2012
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2012-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:抗弯强度;定义(术语);电气工程;疲劳;疲劳极限;材料;微电子学;微系统工艺;共振;试样;半导体器件;系统工程;试验;测试装置;试验体系;薄膜工艺
【英文主题词】:Bendingstrength;Definitions;Electricalengineering;Fatigue;Fatiguelimit;Materials;Microelectronics;Microsystemtechniques;Resonance;Samples;Semiconductordevices;Systemengineering;Testing;Testingdevices;Testingsystem;Thin-filmtechnology
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:31P;A4
【正文语种】:德语



版权声明:所有资料均为作者提供或网友推荐收集整理而来,仅供爱好者学习和研究使用,版权归原作者所有。
如本站内容有侵犯您的合法权益,请和我们取得联系,我们将立即改正或删除。
京ICP备14017250号-1